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Mit zwei Systemen parallel

Carl Zeiss stellt Plattform für korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse vor
Anlässlich der Microscopy Conference in Graz präsentiert Carl Zeiss eine integrierte Lösung für die so genannte korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse. Kernelemente der Verbindung zwischen Lichtmikroskop und Rasterelek- tronenmikroskop sind der gemeinsame Probenhalter und Adapter sowie ein neuentwickeltes Softwarepaket.
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